STAGE - Analyse de propriétés morphologiques par microscope à force atomique (AFM) pour les applications imageur et photonique H/F

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Le sujet de ce stage s’inscrit dans la collaboration entre STMicroelectronics et le CEA-Leti de Grenoble. Dans un contexte à fort enjeu et afin de répondre à une problématique dans les domaines de l’optique et de la photonique, votre travail sera d’étudier les propriétés morphologiques des produits de ST grâce à une technique de microscopie en champ proche appelée AFM (Microscopie à Force Atomique). Vous serez amené à préparer et réaliser des études expérimentales dans un environnement salle blanche en utilisant plusieurs équipements AFM : un microscope 2D, dit conventionnel, et un microscope automatique pour des mesures 3D. L’analyse morphologique des différents types de structures et l’étude des caractéristiques impactant les performances optiques vous seront demandées. Votre travail consistera également à effectuer le traitement d’images, l’analyse des données topographiques, comme par exemple la densité spectrale de puissance (PSD), et à synthétiser vos résultats pour le développement d’un protocole de mesure in-line.
Bien que basé sur le site du CEA-Leti, vous devrez interfacer avec l’équipe Metrolitho de ST afin d’identifier les échantillons et les plaques d’intérêt à étudier ainsi que les analyses associées (conditions expérimentales, paramètres topographiques…etc). Les études expérimentales en salle blanche seront encadrées par l’équipe Métrologie du CEA-Leti dans le but d’évaluer l’apport des différentes méthodes sur des cas d’intérêt ST. Vous présenterez régulièrement vos avancées aux équipes de ST et du CEA-Leti au cours du stage.
VOTRE PROFIL
VOTRE LIEU DE TRAVAIL
Vous serez accueilli au laboratoire CEA-Leti de Grenoble et serez amené à intervenir de façon ponctuelle sur le site de ST à Crolles.
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